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X線光檢查頜骨密度法

　　X線光檢查頜骨骨密度法是依據(jù)骨量不同對X線吸收的差異，在X線片上形成不同灰度來測量BMD.將鋁制梯級與骨組織同時攝像，得到標(biāo)準(zhǔn)的X線片，通過已知鋁制梯級的密度和厚度，估算出被測骨的密度或骨礦含量。Kribbs等應(yīng)用顯微骨密度測量術(shù)研究下頜骨密度，即在定位根尖片方放置標(biāo)準(zhǔn)鋁制梯級，但此法不適合于無牙頜患者。Atwood和 Cov用頭影測量片附加鋁制標(biāo)準(zhǔn)梯級測量頜骨密度。 Horner和Delvin等則用曲面斷層片附加鎳制楔形梯級(0.0326～0.623 mm)，后者克服了鋁制梯級(4.5～8.0 mm)較厚的缺點。但X線光密度法是間接測量法，受X線曝光條件、膠片質(zhì)量、沖洗條件等影響，精度不高。此外，這類方法輻射量較大，將三維結(jié)構(gòu)成像于二維平面上，敏感性亦較差。近年來， 應(yīng)用計算機數(shù)字減影技術(shù)對定位根尖片進行分析，有一定應(yīng)用價值，可重復(fù)投照，可對上下頜進行局部的骨密度測定，有利于縱向觀察，檢測骨質(zhì)改變的靈敏度亦較高。但由于定位根尖片的投照區(qū)域、方法局限，影響了其適用范圍。

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